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小而轻的便携式X射线残余应力分析仪μ-X360s
简介:小而轻的便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360s—满足日本标准JSMS-SD-14-20X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一，被广泛的应用于科学研究和工业...
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