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泽泉科技应邀参加“2009中国作物学会学术年会”

中国教育装备采购网2009-11-30 13:11围观343次我要分享

2009中国作物学会学术年会        

    2009年11月28-30日,泽泉科技和泽泉生态开放实验室应邀参加了由中国作物学会主办,华南农业大学、广东海洋大学农学院、广东省农业科学院作物研究所、广州甘蔗糖业研究所和广东省作物学会承办的“2009中国作物学会学术年会”。

   本次年会在广州举行,来自作物学研究领域的650位专家学者和研究生参加了本届大会,包括中国农科院作科所所长、中国作物学会副理事长万建民教授,美国耶鲁大学分子细胞发育生物学终身正教授、北京生命科学研究所资深研究员邓兴旺教授,中国农业大学副校长、中国作物学会副理事长孙其信教授,中国农科院植保所所长吴孔明研究员,北京市农科院院长、中国作物学会副理事长李云伏研究员,中国科学院副院长、中国作物学会副理事长李家洋院士,湖南农业大学官春云院士,中国农科院气象所原所长林而达研究员,四川农业大学荣延昭院士,国家气象局原局长秦大河院士,中国农科院生物技术研究所郭三堆研究员,江苏省副省长、南京农业大学曹卫星教授,江苏里下河地区农科所程顺和院士,华南农业大学原校长骆世明教授,华南农业大学农学院院长张桂权教授等著名专家。


小型高通量植物3D成像系统


温室型高通量植物3D成像系统


    泽泉科技在本次年会上隆重推出了“高通量植物3D成像技术”,并演示了“实验室型高通量植物成像分析系统”和“温室自动化与多参数植物3D成像分析集成系统”的视频。这套系统可以全自动高通量对植物进行成像分析,包括可见光成像、近红外成像、热(红外)成像、荧光成像、X-光成像等;测量参数包括植物的结构、高度、宽度、密度、叶长、叶宽、叶面积、叶角度、叶颜色、茎宽、茎长、茎体积、对称性、根长、根角度、根分布、叶病斑、种子颜色、种子颜色面积等等几十个参数;适用材料包括既包括拟南芥等模式植物,也包括绝大多数的农作物和蔬菜;特别适用于大规模快速的植物表型筛选、植物病理分析、植物抗旱研究、植物结构研究、植物根系研究、植物种子筛选和鉴定等领域;是构建全自动高通量温室的理想选择,并且可做到根据成像结果对植株进行分选。与会人员这这套系统表现出浓厚兴趣,并与我司技术工程师做了深入的交流。

    此外,泽泉科技还展示了双通道PAM-100测量系统DUAL-PAM-100、调制叶绿素荧光成像系统MAXI-IMAGING-PAM、手持式光合作用CI-340、植物根系生长监测系统CI-600等先进的仪器,受到与会人员的热烈关注。


来源:上海泽泉科技有限公司作者:上海泽泉科技股份有限公司

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