方块电阻的简介以及影响探头法测试方阻度的因素:
简介
Sheet resistance
蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方块电阻，个正方形的薄膜导电材料边到边"之"间的电阻，如图所示，即B边到C边的电阻值。
方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。
影响探头法测试方阻度的因素:
(1)要求探头边缘到材料边缘的距离大大于探针间距，般要求10倍以上。
(2)要求探针头之间的距离相等，否则就要产生等比例测试误差。
(3)理论上讲探针头与导电薄膜接触的点越小越好。但实际应用时，因针状电容易破坏被测试的导电薄膜材料，所以般采用圆形探针头。
后谈谈实际应用中存在的问题
1、如果被测导电薄膜材料表面上不干净，存在油污或材料暴露在空气中时间过长，形成氧化层，会影响测试稳定性和测试度。在测试中需要引起注意。
2、如探头的探针存在油污等也会引起测试不稳，此时可以把探头在干净的白纸上滑动几下擦擦可以了。
3、如果材料是蒸发铝膜等，蒸发的厚度又太薄的话，形成的铝膜不能均匀的连成片，而是形成点状分布，此时方块电阻值会大大增加，与通过称重法计算的厚度和方阻值不样，因此，此时就要考虑到加入修正系数。
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