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尼克斯4200涂层测厚仪

尼克斯4200涂层测厚仪

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详细说明

QNIX4200涂层测厚仪,珠海 膜厚仪

尼克斯QNIX4200涂层测厚仪是德国QNIX公司推出的一款一体式铁基膜厚仪。体积小巧,携带方便。可以测量铁基上0-3000μm的涂层厚度。无需校准。
QNIX4200涂层测厚仪 技术参数:

QuaNix技术参数
型    号
4200
4500
1200
1500
7500
keyless
基    体
Fe
Fe/NFe
Fe
Fe/NFe
Fe、NFe、Fe/NFe
Fe/NFe
探头形式
一体
一体、分体
无线分体
显    示
LCD数字显示
测量范围
0-3000μm
Fe:0-3000μm
NFe:0-2000μm 
0-2000μm
0-5000μm
0-2000μm
0-5000μm
0-5000μm
测量精度
0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,
2000-5000μm≤±3%
显示精度
1μm
0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度
-10 - +60℃
温度补偿
0-50℃
存    储
1500M型
7500M型
keylessM型
 
3900个测量值,999个数据组
数据传输
RS232打印、电脑
统计功能
平均值、最大值、最小值、标准偏差
超限报警
上下限
最小基体
10mm×10mm
最小曲率
凸、凹半径:3mm/25mm
凸半径:5mm,凹半径:25mm
最薄基体
Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电    源
5号电池2节
9V碱性电池1节
5号电池2节
重    量
110g
130g
150g
130g
尺    寸
110×60×27mm
166×64×34mm
110×60×24mm
110×62×22mm