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 磁性薄膜磁电阻测量仪
  • 磁性薄膜磁电阻测量仪
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    参考价格: ¥0.00
    产品型号:277 (uncommon)
    所在地区:天津
    上架时间:2012年09月28日
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    详细说明

    磁性薄膜磁电阻测量仪

     

    用四探针测量电阻率,可以避免电极接触电阻对测量结果的影响,因此在国内外早已被广泛用来测量金属、半导体、导电高分子材料的电阻率。另外本仪器还在四探针样品台两侧加上亥姆霍兹线圈,用其提供一个可调磁场,用来测量磁性金属薄膜的磁电阻率。
    用途:
    (1)       金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量;
    (2)       金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属材料电阻率的测量(最大厚度6毫米)
    (3)       磁性合金薄膜的磁电阻测量;
    (4)       铁磁/非磁性/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量;
    (5)       自旋阀型巨磁电阻薄膜、隧道结型巨磁薄膜的磁电阻测量。
    仪器组成:
    1、  亥姆霍兹线圈
    由亥姆霍兹线圈提供磁场,线圈可在360度范围内绕样品旋转;
    四探针组件是由具有引线的四根探针组成。
    2、  精密直流电流源SB118
    输出电流在10-6~0.2安培范围内可调
    3、  直流数字电压表
    具有6位半字长、0.1微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。
    4、  直流磁场电源
    输出电流在0~10安培