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电容电压(C-V)特性测试仪

电容电压(C-V)特性测试仪

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产品型号:KCV-300
所在地区:广东
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电容电压(C-V)特性测试仪

CV法利用PN结或肖特基势垒在反向偏压时的电容特性,可以获得材料中杂质浓度及其分布的信息,这类测量成为C-V测量技术。这种测量可以提供材料横截面均匀性及纵向杂质浓度分布的信息。

组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容),加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压是,PN结势垒区变宽,势垒电容变小。

KCV-300电容电压(C-V)特性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器,专用于测量半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量,也可测试其它电容。

仪器有较高的分辨率,电容量是四位读数,可分辨到0.001pF,偏置电压分辨率为0.01V,漏电流分辨率为0.01μA。

该测试仪器性能稳定可靠,功能齐全,精度高,操作简单,适用于元件生产厂家,科研部门,高等院校等单位。

主要技术指标如下:

测试信号频率:1.000MHz±0.01%

测试信号电压:≤100mVrms

电容测量范围:0.001pF~10000 pF

误差:≤±3%

直流偏压:自带偏压0.01~45V,可外接偏压源拓展;

漏电流:0.1~199.9μA

供电电源:AC220V 50Hz

消耗功率:<40W