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 J200 LA激光剥蚀进样系统联用电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)
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    参考价格: ¥0.00
    品  牌:ASI
    产品型号:J200
    适用范围:高教
    所在地区:北京
    上架时间:2018年05月14日
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    详细说明

    前言
        激光剥蚀(Laser Ablation简称LA)是一种直接固体取样技术。该技术利用激光脉冲,在固体样品上剥离出极少量的样品物质(皮克至飞克级别)。相对与其它原子光谱方法,LA联用电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)技术具有独特的优势,例如极少的样品前处理过程、高精度、高灵敏度(检测限低至ppb级)。LA-ICP-MS技术不仅可以得到元素含量信息,还可得到样品同位素信息。根据激光采样方式的不同,LA-ICP-MS不仅可以用于传统的样品整体分析,还可以用于空间分辨的分析,例如绘制元素/同位素分布图、深度剖析等。
     
    J200 LA激光剥蚀进样系统联用电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)

        本案例采用J200 LA激光剥蚀进样系统联用Bruker公司的Aurora Elite ICP-MS超高灵敏度质谱仪,组成LA-ICP-MS分析系统,对NIST标准玻璃样品SRMs(含有痕量的目标元素)进行分析,以确定可以检测到的绝对质量及检测限(LODs)。案例中采用的J200 LA激光剥蚀进样系统由美国应用光谱公司制造——美国应用光谱公司即ASI公司,由美国劳伦斯伯克利国家实验室首席科学家 Rick Russo建立。


     

     

    J200 LA激光剥蚀进样系统联用电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)