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 ROHS检测仪/X荧光光谱分析仪/能量色散X射线荧光光谱仪
  • ROHS检测仪/X荧光光谱分析仪/能量色散X射线荧光光谱仪
  • ROHS检测仪/X荧光光谱分析仪/能量色散X射线荧光光谱仪

    参考价格: ¥0.00
    产品型号:m353240 (TB28-x-5000)
    所在地区:北京
    上架时间:2012年09月28日
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    详细说明

    ROHS检测仪/X荧光光谱分析仪/能量色散X射线荧光光谱仪
    产品详情:
    TB28-x-5000 是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。

    整机技术规格:
    激发源:本机采用低功率 X 射线管(Mo靶),最高电压可达50KV,最大电流1mA
    高压电源:最大50W,50KV,1mA
    探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV)
    多道分析器:2048道
    软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括:KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。
    电源:交流220V 50Hz
    体积:520mm x 600mm x 270mm
    重量:约 42kg (主机)

    整机技术性能:
    测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量
    测量含量范围,从ppm至100%
    测量速度快,通常为几十秒到几分钟
    多元素同时定性定量
    蜂位漂移:八小时小于1%

    进口探测器的性能指标:
    探测器类型:电制冷Si-PIN
    探测面积:2.4x2.8mm(7mm2)
    硅活化区厚度:300um
    探测器分辨率:对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为149Ev
    探测器窗口:铍窗,25um厚

    进口高压电源规格:
    电压和电流从零至满量程连续可调,最大50KV,1mA
    电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %
    线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01%
    电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%
    线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%
    稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%
    温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

    详细参数:
    定量测量范围:Pb,Hg,Cr,Cd,Br
    测量精度:低于100ppm时精确度15ppm,大于100ppm时,精确度15%
    分析元素:Pb,Hg,Cr,Cd,Br
    检出限: Pb:3.2 mg/kg (ppm)
    Hg:3.2 mg/kg (ppm)
    Cr:4.1 mg/kg (ppm)
    Cd:5.8 mg/kg (ppm)
    Br:3.1 mg/kg (ppm)
    测量时间:30秒——120秒可选
    X射线源:X光管
    工作环境温度:10℃——45℃
    工作环境湿度:20%——80%
    高压器:50Kv
    操作系统:windows XP