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 瑞典XCounter 双能探测器
  • 瑞典XCounter 双能探测器
  • 瑞典XCounter 双能探测器

    参考价格: ¥0.00
    品  牌:瑞典XCounter
    产品型号:121 (XC-FLITEFX1、FX2、FX3)
    适用范围:高教
    所在地区:辽宁
    上架时间:2014年12月08日
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    详细说明
     

    瑞典XCounter 双能探测器


    ? XCounter具有能量分辨能力,可以分辨出不同的材料

    ? 一次X射线获取,可记录两种不同能量的X射线吸收剂量

    ? 利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像

    中把它们区分出来

    ? 使得XCounter在医疗和工业领域独具特色

    ? 独特的卖点

    独特的传感器

    ? FLITE

    ? 0.75mm/1mmCdTe 最大 225kV

    ? 成像面积 150mmx25.6mm,12.8mm, 或 6.4mm

    ? 拼接的探测器

    ? 100 um 像素

    ? TDS快速扫描

    ? 模块设计,电子器件可再生利用,重组变成一个新的产品,

    同样的板子可适用于不同宽度

    ? 板子和板子之间的通讯允许链接

    ? 可对接的,以形成一个区域探测器

    ? 单一的开发库

    基础材料

    ? 一块PCB板,适用于

    所有的探测器

    ? 传感器阵列和PCB之

    间灵活连接,可以有

    不同的形式(未展示)



    串联拼接探测器

    ? 串联拼接,形成更长的线阵探测器

    ? 最长至1m





    产品描述
    XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
     
    XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
     
    引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE FX系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。  
     
    集成
    XC-FLITE FX系列,通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台
     
    应用
    *小范围辐照   
    *小动物成像
    *实验室样品和标本成像    
    *工业检测(NDT)
     
    特点&优势
    *三种尺寸可选
    *CdTe-CMOS传感器,高品质成像
    *双能采集,具有材料区分能力
    *反符合技术,卓越的能量分辨率
    *可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
    *兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
    *绑定强大的可编程的开发软件
     
     
    基本参数

    物理参数



    尺寸 (L×W×H)


    XC-FLITE FX1:23.1×13.1×6.0 cm
    XC-FLITE FX2:38.6×13.1×6.5 cm
    XC-FLITE FX3:54.0×13.1×6.5 cm

    温度控制


    内部的珀尔帖效应温度控制

    环境温度


    +10 - +40℃

    储藏温度


    -10-+60℃@ 10% to 95% 湿度

    射线窗


    碳纤维, 厚500μm

    射线屏蔽


    根据应用

    传感器



    传感器数量


    FX1:1   FX2:2    FX3:3

    传感器类型


    双能光子计数 CdTe-CMOS

    传感器厚度


    0.75mm-2.0mm CdTe

    有效面积


    FX1:154.7×12.8mm(1536×128像素)
    FX2:309.4×12.8mm(3072×128像素)
    FX3:464.1×12.8mm(4608×128像素)

    像素


    100μm

    像素填充率


    100%




    性能



    帧率


    最高1000 fps(也可选择时间延迟求和模式)

    动态范围


    12 bits

    图像面元


    1×1,2×2,4×4

    成像时间


    100μs-5s

    DQE(0)
    Detective Quantum Efficiency


    85%@RQA5 spectra

    MTF
    Modulation Transfer Function


    >80% @ 2lp/mm  
    >45% @ 5lp/mm

    管KV范围


    15-250kVp

    内部测试图样


    Pseudo-random debug pattern

    外部触发输出


    3.3V TTL

    输入


    5V

    滞后


    0%

    拖影


    <0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy)

    分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off  











    产品描述:PDT25-DE
    紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
     
    PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
     
    引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE先进之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
     
    集成
    通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
     
    应用
    *小范围辐照  
    *小动物成像 
    *实验室样品和标本成像 
    *反向散射成像  
    *工业检测(NDT)
     
    特点和优势
    *CdTe-CMOS传感器,高品质成像
    *双能采集,具有材料区分能力
    *反符合技术,卓越的能量分辨率
    *可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
    *兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
    *绑定强大的可编程的开发软件
     
    技术参数


    物理参数



    尺寸 (L×W×H)


    94×54×20mm

    重量


    150g(235g 带钨防护)

    温度控制


    内部的珀尔帖效应温度控制

    环境温度


    +15 - +45℃

    储藏温度


    -10 - +50℃@ 10% -95% 湿度

    最大消耗功率


    10W

    射线窗


    碳纤维, 厚250μm

    射线屏蔽


    根据应用




    传感器



    传感器类型


    双能光子计数 CdTe-CMOS

    传感器厚度


    0.75mm-2.0mm CdTe

    有效面积


    25.6×25.6 mm2

    像素


    100μm

    像素填充率


    100%




    性能



    帧率


    最高35fps

    动态范围


    12 bits

    成像时间


    100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间)

    DQE(0)
    Detective Quantum Efficiency


    85%@RQA5 spectra

    MTF
    Modulation Transfer Function


    >80% @ 2lp/mm
    >45% @ 5lp/mm

    管KV范围


    15-140 kVp

    内部测试图样


    Pseudo-random debug pattern

    外部触发输出


    3-3 V TTL

    输入


    3-15V

    滞后


    0%

    拖影


    <0.1%  X射线开启后1分钟(12μGy)

     
     
    分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off  

    产品描述
    XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
     
    XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式,扫描速度最高90mm/s。
     
    引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE X系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。  
     
    所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制,整个扫描过程是透明可见的。
     
    集成
    XC-FLITE X系列,通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
     
    应用
    *小范围辐照   
    *小动物成像
    *实验室样品和标本成像    
    *工业检测(NDT)
     
    特点&优势
    *三种尺寸可选
    *CdTe-CMOS传感器,高品质成像
    *自扫描设计,透明可见
    *双能采集,具有材料区分能力
    *反符合技术,卓越的能量分辨率
    *可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
    *扫描速度最高90mm/s
    *兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
    *绑定强大的可编程的开发软件
     
    技术参数单
    基本参数

    物理参数

    尺寸 (L×W×H)


    XC-FLITE X1:32.9×22.0×5.5cm
    XC- FLITE X2:54.2×40.2×8.7cm
    XC-FLITE X3:63.0×57.1×8.5cm

    温度控制


    内部的珀尔帖效应温度控制

    环境温度


    +10 - +40℃

    储藏温度


    -10-+60℃@ 10% - 95% 湿度

    射线窗


    碳纤维, 厚500μm

    射线屏蔽


    根据应用

    传感器


    传感器数量


    X1:1   X2:2    X3:3

    传感器类型


    双能光子计数 CdTe-CMOS

    传感器厚度


    0.75mm-2.0mm CdTe

    有效面积


    X1:154.7×12.8mm(1536×128像素)
    X2:309.4×12.8mm(3072×128像素)
    X3:464.1×12.8mm(4608×128像素)

    像素


    100μm

    像素填充率


    100%

    性能


    最大扫描速度


    X1:90 mm/s   X2 & X3:255 mm/s

    帧率


    最高1000 fps (也可选择时间延迟总和模式)

    动态范围


    12 bits

    图像面元


    1×1,2×2, 4×4

    成像时间


    100μs-5s

    DQE(0)
    Detective Quantum Efficiency


    85%@RQA5 spectra

    MTF
    Modulation Transfer Function


    >80% @ 2lp/mm  
    >45% @ 5lp/mm

    管KV范围


    15-250kVp

    内部测试图样


    Pseudo-random debug pattern

    外部触发输出


    3.3V TTL

    输入


    5V

    滞后


    0%

    拖影


    <0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy)

     
     
    分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off