西安飞腾仪器仪表有限公司

 涂层测厚仪ST2000-DLXn
  • 涂层测厚仪ST2000-DLXn
  • 涂层测厚仪ST2000-DLXn

    参考价格: ¥0.00
    产品型号:ST2000-DLXn
    所在地区:陕西
    上架时间:2012年09月28日
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  • 详细说明



    涂层测厚仪适用于研发和半导体,FPD,纳米技术,电子材料及特殊涂层生产线中的涂层测量.例如在半导体行业,需根据图样精确地获取晶圆表面的各个涂层沉积。涂层测量系统是用来监控工序并通过测量涂层的厚度决定产品的质量。

        测量涂层厚度有许多种方法。其中最常见的是基于机械技术的触针方法,显微镜技术和光学技术。

        本涂层测厚仪是光学技术方法。因而由涂层表面的反射光和基板表面反射光之间的干涉现象或是光的相位差决定涂层的性质。这样我们不但可以测量涂层厚度还可测量光学常数。如果是透明涂层且可维持光的干涉性,便可用ST系列测量任何样品。通过数学计算,多层涂层的每层厚度都可测量。由于采用的是用户友好界面,操作十分简单。 样品不会受到损害,并可快速测量从Å到数十μm的大范围厚度。

     

    一、测量原理



    涂层测厚仪ST2000-DLXn                 涂层测厚仪ST2000-DLXn

     利用光的间接测量

     光&信号通道

           光源发出的可见光(卤钨灯) => 涂层层(样品)=> 表面和界面的反射 => 光纤探针 => 分光计(检测器) =>

    通过光栅波长分解 => CCD电子信号转换 => A/D转换 => 通过 USB连接电脑 => 软件

     通过光谱拟合厚度测量

       根据涂层厚度和折射率(N&K值)光谱呈现特殊的形状。

       通过拟合计算光谱和测量光谱将涂层厚度最优化时可计算出厚度。 

     

    涂层测厚仪, 为研发和实验室提供不同的模式


    涂层测厚仪ST2000-DLXn

     

    涂层测厚仪 : R&D 实验室规模

    ? 非接触/非破坏性

    ? 反射计

    ? 实时测量,多点显示

    ? 基于软件的Windows ( Excel, Origin, MS-Word save)

    ? 各种n, k 模式(Cauchy, Cauchy Expotential, Sellmeier)

    ? 2D,3D 测绘数据显示 (逐点详述)
    ? 半自动机械平台控制
    ? 快速测量,操作简便
    ? CCD摄像头 + 自动对焦

     

     

    二、系统组件

    ?标准件

     

    项 目

    描  述

    检 测 器

    2048像素CCD 阵列

    显 微 镜

    MTS75S(ST2K) / Olympus(ST4K, ST5030)

    光    纤

    200? 反射光纤

    光学透镜

    M4X, M10X (ST2K);   M5X, M10X (ST4K, ST5030);   M50X(Option)

    软    件

    VisualThick3.xx(ST2K & ST4K) ;   AThickOS(Optional);   VisualThickA (ST5030)

     

     

    ?配件

     

    项 目

    描  述

    数 据 线

    USB 线缆

    纯    硅

    标准样品

    电 源 线

    110~220V, 1~3Φ

    操    作CD

    软件 & 操作指南

    手    册

    操作指南

    快速指南

    快速指南

    主备用灯泡

    12V, 100W,卤钨灯(ST4K,ST5030);  12V, 35W,卤钨灯 (ST2K)

    聚焦备用灯泡

    5V, 6W, 卤钨灯

    SRM (option)(标准参考样品)

    晶圆表面硅上面二氧化硅上生成的四个热氧化涂层。

    CCD摄像头(选项)

    640×480 彩色CCD

     

     

     

    ? ST2000-DLXn 涂层测厚仪

    涂层测厚仪ST2000-DLXn

    基本组件

    检测器 (顶点用于测量)

        用于反射的光纤                                 

        电源线

        显微镜

        10倍物镜

        4倍物镜

        卤素灯

        数据线

    可选项目

        40倍物镜(用于表面观察)

        CCD 摄像头

        标准样品

    三、系统软件

    操作系统 : VThick3.xx

    ST2000-DLXn & ST4000-DLX的操作软件

    操作软件 : AThickOS

    ST2000-DLXn & ST4000-DLX (可选) 的操作软件

    操作系统 : VisualThickA

    ST5030-SL的操作软件

     

     

     

     

     

    四、性能指标

     

    ? ST2000-DLXn 涂层测厚仪

    涂层测厚仪ST2000-DLXn

     

     

    测量范围

    20nm~35?

     

    测量分辨率

    1.5nm

    测量速度

    1~2 sec/site

    平台尺寸

    150×120mm  (70×50 mm 移动)

    测量样品尺寸

    ≤ 4”

    光斑尺寸

    一般为20 ?

    测量原理

    反射计

    测量方法

    非接触

    类型

    手动

    尺寸

    190×265×316 mm

    适用温湿度

    5~35°C, 30~80% RH

    重量

    12Kg

    旋转头

    三目旋转头

    照明

    控制装置和变压器内置12V/35W卤素灯

     

     

     

    特性

     快速测量 & 操作简便

     非接触 & 非破坏性

     良好的重复性和再现性

     基于用户易操作界面的Windows

     各个视图和储存数据的打印功能

     测量可达3层

    应用领域

     聚 合 体 : PVA, PET, PP, PR 等

     介质材料 : SiO2, TiO2, ZrO2, Si3N4 等

     半 导 体 : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS 等