北京恒奥德仪器仪表有限公司

第6年
实验室硅酸根分析仪

实验室硅酸根分析仪

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品  牌:恒奥德
产品型号:HAD-PY-601
所在地区:北京
上架时间:2017-08-03
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  • 详细说明
    一、仪器的特点
    1、单点校准(全量程范围内,仅需校准一点即可完成仪表校定)完全保证仪表线性及精度。
    2、合理的布局。规范的液路和电器单元避免了互相干扰。
    3、先进可靠的双光束光路系统,专用单色光源,可有效的排除杂光、灰尘、气泡等干扰。
    4、自动校准功能,校正上、下标时方便可靠,并提高了精度。
    5、中文液晶显示引导操作,提示简单、明了、清晰。
    6、高精密的电子单元,先进、可靠有效的防止了死机,且采集精度高,体积小。
    7、仪器本身无电位器操作,避免了由在电位器磨损而引起的误差和不稳现象。
    8、可选配打印功能,能对日期和数据进行打印。
    9、三种数据存储功能,可方便的对仪器进行各种历史数据查询分析。

     

     
    二:技术参数
        测量范围: 0-50µg/L      0-200µg/L
                    0-500µg/L     0—2000µg/L。
     线性误差极限:±2%F·S或±2 µg/L — 取较大者
    电源:220VAC ±10% 50HZ。
     输出方式:中文液晶直读,配有中文提示,可选配打印功能。
                         标准485串口。
      环境温度要求:15℃-40℃。
      水样温度要求:20℃-40℃。
       使用环境:无振动、灰尘及腐蚀性气体。
       悬浮固体:<10mg/L, <60微米
     外型尺寸:360×240×165mm
        重量: 5Kg
        功耗: 20W

     2:

    实验室硅酸根分析仪 产品名称:植物根系分析仪系统 根系分析仪系统 根系分析仪
    货  号:23650
    产品型号:HAD-LA-S

    植物根系分析仪系统 根系分析仪系统 根系分析仪 型号:HAD-LA-S

    可分析测量:
    1)根总长;
    2)根平均直径;
    3)根总面积;
    4)根总体积;
    5)根尖计数;
    6)分叉计数;
    7)交叠计数;
    8)根直径等级分布参数;
    9)可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等,及其分布参数;
    10)根尖段长分布;
    11)能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积;
    12)能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等;自动分析根系分级伸展的等级分布情况,可达到5级侧根的自动分析;
    13)可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改);
    14)能用盒维数法自动测根系分形维数;
    15)大批量的全自动根系分析,可对各自动分析结果图进行编辑修正;
    16)能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果。精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%;
    17)匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量;
    18)采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX标准格式的图像。
    19)可兼做针叶面积、体积测量,以及棉纤维粗细、长度测量。
    2、人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
    3、统计效果监视:监视和修正植物对象分析的精度。
    4、自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除。
    5、辅助测量功能:
    尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;
    长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;
    6、数据导出
    分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图
    HAD-LA-S型植物根系分析仪系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪,最大分析测量面积:反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),扫描根面积30 cm×20 cm,可分辨的最小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%。测量分析时间:30~60秒。用户需另配计算机。
    若需大幅面分析,请选配:光学分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus扫描仪。