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 数字集成电路测试仪  型号:SY-ICT-33B
  • 数字集成电路测试仪  型号:SY-ICT-33B
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    适用范围:全领域
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    上架时间:2018年11月16日
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  • 详细说明

    数字集成电路测试仪  型号:SY-ICT-33B

    该机系引进国外大散件组装而成的智能化测试议器,能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路;具有好坏判别,型号判别、老化、代换查询、破译及编程等多种功能
    编程电压  1.25V、21V、26V
    编程速度  9档
    适应电源  AC 220V±10% 50HZ±4%
    视在功能  15VA
    工作环境  5℃-45℃
    外型尺寸  387×260×109mm
    重    量  约2.5Kg