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漆膜测厚仪,测厚仪

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漆膜测厚仪,测厚仪
漆膜测厚仪,测厚仪  型号:DP-QUJ
依据GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984。是利用千分表刻度盘示被测物的厚度以μm表示。
适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜硬到足以经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。
设备仪器:
(1) 测厚仪:度达到2μm,重复性
(2) 千分表每年需经省市法定计量鉴定。


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