北京恒奥德仪器仪表有限公司

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 低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号;KDK-KDY-1
  • 低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号;KDK-KDY-1
  • 低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 型号;KDK-KDY-1

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    适用范围:全领域
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    上架时间:2018年12月07日
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    低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号;KDK-KDY-1

    仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
    (2)范围:电阻率10-5~10+3欧姆·厘米,分辨率为10-5欧姆·厘米
    方块电阻10-4~10+4欧姆/□,最小分辨率为10-4欧姆/□
    (3)可测量材料:半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
    可准确测量的半导体尺寸:直径≥20㎜


    可测量的半导体尺寸:直径≥8㎜
    (4)测量方式:平面测量。
    (5)电压表:双数字电压表,可同时观察电流、电压变化
    A.量程0~19.999 mV
    B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)
    C.灵敏度:1uV
    D输入阻抗﹥1000MΩ
    E 4 1/2位数字显示,0~19999
    (6)恒流源:
    A.电流输出:直流电流0.003~100 mA连续可调,有交流电源供给
    B.量程:10uA,100uA,1 mA,10 mA,100 mA五档


     C.恒流源精度:各档均≤±0.05%
    (7)四探针测试探头
    A.探头间距1.59㎜
    B.探针机械游率:±0.3%
    C.探针直径0.8㎜
    D.探针材料:碳化钨,探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。
    (8)测试架:(选配)
    手动测试架:KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作,可以用作断面单晶棒和硅片测试,探针头可上下移动距离:120mm,测试台面200x200(mm)。
    (9)精度
    电器精度:1-1000欧姆≤0.3 %
    整机测量精度:1-100欧姆·厘米≤3%
    (10)电流:220V±10%,50HZ,功率消耗﹤35W

    注:如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测