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 MIRA3 GM 场发射扫描电子显微镜
  • MIRA3 GM 场发射扫描电子显微镜
  • MIRA3 GM 场发射扫描电子显微镜

    参考价格: ¥2000000.00
    产品型号:MIRA3 GM
    适用范围:高教
    所在地区:北京
    上架时间:2018年06月19日
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    详细说明

    MIRA3 GM 场发射扫描电子显微镜

    MIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。
    基于Windows™平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。


    概述

    分析潜力

    • GM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台,完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)
    • 优化几何设计的许多接口,更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)和其他探头
    • 一流YAG闪烁器式探头
    • 可选各种探头和配件
    • 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下,几分钟就可以达到仪器工作需要的真空,电子枪的真空度由离子泵保持
    • 在低真空模式下可以观测不导电的样品,观测磁性样品的效果非常好
    • 可选样品室大小与镜筒防振方式


    MIRA3配置


    MIRA3 GMH
    大样品室高真空式电镜,配备有可选的马达驱动样品台,适合观测导电的样品。
    MIRA3 GMH
    (分析型特大样品室,延长马达驱动样品台,高真空操作)
    MIRA 3 GMH是一款完全由计算机控制的高分辨率场发射扫描电子显微镜,在高真空模式下操作,其具有突出的电子光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理、和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。
    最重要的特性:
    u 高亮度肖特基电子枪可得到高分辨率/高束流/低噪声的图像
    u 镜筒中的In-Beam二次电子探测器(选配)用于小工作距离条件下二次电子的检测
    u 独有的三透镜大视野观察Wide Field OpticsTM设计,提供了多种工作模式和显示模式,体现了TESCAN专有中间透镜IML光束优化的功能
    u 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪技术(In-Flight Beam Tracing™,可模拟和进行束斑优化,包括直接和连续控制电子束束斑和束流大小
    u 电子束减速模式在低电压下获取优秀的分辨率(选配)
    u In-Beam背散射电子探测器用于小工作距离的背散射电子成像,甚至可用于铁磁性样品的成像(选配)
    u 成像速度快
    u 高通量大面积自动化,例如自动颗粒分布和分析
    u 计算机优化、马达驱动的样品台
    u 利于EDX、WDX、EBSD分析的理想几何设计;非扭曲的EBSD模式
    u 由于使用了强力的涡沦分子泵和机械泵,因而可以快速简单得到干净的真空样品室;电子枪的真空度由离子泵来维持
    u 包括电子光学设置和校准的全自动显微镜设置
    u 完善的软件用于SEM控制,图像采集、存档、处理和分析;多用户多语言操作界面
    u 网络操作和内置的远程控制/诊断是TESCAN的标准配置
    u 独特的3维电子束技术用于获得实时立体图像

    MIRA3 GMU
    可变真空式SEM,体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品,不需要喷金。
    MIRA3 GMU
    (分析型特大样品室,延长马达驱动样品台,可变真空操作)
    MIRA 3 GMU是一款完全由计算机控制的高分辨率场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的电子光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理、和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。
    最重要的特性:
    u 高亮度肖特基电子枪可得到高分辨率/高束流/低噪声的图像
    u 镜筒中的In-Beam二次电子探测器(选配)用于小工作距离条件下二次电子的检测
    u 独有的三透镜大视野观察Wide Field OpticsTM设计,提供了多种工作模式和显示模式,体现了TESCAN专有中间透镜IML光束优化的功能
    u 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪技术(In-Flight Beam Tracing™,可模拟和进行束斑优化,包括直接和连续控制电子束束斑和束流大小
    u 电子束减速模式在低电压下获取优秀的分辨率(选配)
    u In-Beam背散射电子探测器用于小工作距离的背散射电子成像,甚至可用于铁磁性样品的成像(选配)
    u 成像速度快
    u 高通量大面积自动化,例如自动颗粒分布和分析
    u 计算机优化、马达驱动的样品台
    u 利于EDX、WDX、EBSD分析的理想几何设计;非扭曲的EBSD模式
    u 由于使用了强力的涡沦分子泵和机械泵,因而可以快速简单得到干净的真空样品室;电子枪的真空度由离子泵来维持
    u 包括电子光学设置和校准的全自动显微镜设置
    u 完善的软件用于SEM控制,图像采集、存档、处理和分析;多用户多语言操作界面
    u 网络操作和内置的远程控制/诊断是TESCAN的标准配置
    u 独特的3维电子束技术用于获得实时立体图像
    u 扩展的低真空模式使样品室真空可达500Pa用于非导电样品的观察