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封面文章!原位联合显微分析新突破,一台设备实现多种显微表征模式
论文题目:AHighlyIntegratedAFM-SEMCorrelativeAnalysisPlatform发表期刊:MicroscopyTODAYDOI:https://doi.org/10.1093/mictod/qaad083【引言】在联合显微分析领域,科学...
2023-12-27
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[方案]
高教
太酷了!这台全新多功能材料微区原位表征系统,可实现同位置,同界面的SEM和AFM综合测量
材料的性能在芯片制造,新能源,医疗,机械,机电等诸多领域起着举足轻重的作用。随着科学技术的进步,人们发现材料学的宏观性能往往取决于材料微区的性能累积。因此,材料...
2022-11-18
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