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全自动干法激光粒度仪
  • 全自动干法激光粒度仪
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    产品报价: 面议
    品  牌:精新
    产品型号:JL-1178
    适用范围:高教 职教
    所在地区:四川
    (联系我时,请说明是在教育装备采购网上看到的,谢谢!)
    详细说明

      在粉体粒度测试领域,不宜用水(湿法)测试的磁性材料、碳酸锂、药粉、水泥、化工等类粉体,要获得准确的测试结果,一般采用分散介质为气体的激光粒度仪进行测量。精新JL-1178干法全自动激光粒度仪,依据GB/T 19077.1-2008/ISO13320标准以及精新自由分布模式计算粒度分布,通过进一步的提升光学系统,拓宽了其测试范围,从而保证测试数据重复性好、稳定性好,达到国外同类型仪器测量精度。JL-1178干法全自动激光粒度仪,应用遍及化工、电池、制药等现代工业的各个领域。

      JL-1178配套主机、辅机(辅机内置抽尘器、储存废料罐、空气净化过滤罐)、静音无油空压机三大件。金属外壳全密封结构,具有良好的电磁屏蔽性能,在测试过程中辅机与主机紧密配合,自动开启/关闭及时收集废料,环保无污染。应用成都精新自主研发的一体式抽样分散喷粉装置(专利032529376),样品条位于抽样口下缘,均匀移动中被瞬时吸入分散,喷枪连续自动喷射,开始自动测试,自动清扫工作仓,测试过程在电脑控制下全自动完成,智能化程度高。测试速度快,每测一个样品1分钟内完成,结果由电脑自动记录保存,打印方便。

    应用领域

      大专院校、科研单位、医药、水泥、钕铁硼粉、造纸、铁氧体、钴粉、粉末涂料、电子材料、农药、颜料、陶瓷、化妆品、食品、滑石粉、高岭土、氧化铝、稀土、耐火材料、石墨等各种行业干粉料的粒度分布测试

    参数指标

    项目

    指标

    项目

    指标

    测试原理

    静态散射光全量程米氏(Mie)散射理论

    测量范围

    0.01μm~3000μm

    进样方式

    外置干法自动进样系统

    分散方式

    高速紊流分散系统

    重复性误差

    ≤3%(标准物质D50偏差)

    探测器

    128级多元探测器

    准确性误差

    ≤3%(标准物质D50偏差)

    分散时间

    <5秒/次

    信号光源

    进口半导体激光器,功率30mw寿命大于70000小时

    干法进样

    连续自动测试,自动清扫工作仓,每测试1个样1分钟内完成。

    光路系统

    独创平行光路光束,富氏透镜,自动对中

    分散压力

    压力0.1—0.8Mpa,压力可调

    主机体积

    长790×宽360×高420(mm)

    重约50kg

    测试介质

    压缩空气或其它惰性气体

    辅机体积

    长660×宽320×高900(mm)

    重约60kg

    样品用量

    每次约2g-10g,根据样品特性决定

    工作电源

    AC220V ±22V50Hz ±0.5Hz

    环境要求

    温度:5℃~35℃;湿度:<85%;


    干法进样系统

      干法应用成都精新自主研发的一体式抽样分散喷粉装置(专利032529376),样品条直接位于抽样口下缘,均匀移动中被瞬时吸入分散,喷枪连续自动喷射,无传输距离,避免粉体分散后的二次团聚,保证测试的准确性和稳定性。样品使用量全部吸入,无分层。无附着。样品之间无污染。自动测试,自动清扫工作仓,每测试1个样1分钟内完成。测试后的粉料,经大抽力的抽风机抽入,先经粉体分离装置分离后,盛于料筒储存。

    先进的光学系统

          采用倒置傅里叶光学系统,无光学镜面的产生的杂散光,无球差,慧差的光学缺陷,大角度散射光不受透镜孔径的限制。

       128级多元探测器,完成前向,侧向和后向散射信号的接收。粒径分挡多,级差小,散射信号检测精细,检测分辨率高。探测器背景光每一级独立补偿,信号高速采集放大,分辨率高。动态响应快速灵敏。

       全量程米氏散射理论,采用我公司的(无约束)自由分布模式计算粒度分布。充分检测出每一粒级细节的细微差别。所以在全量程测试中具有极高的分辨率,受到了用户的高度评价。

       进口半导体激光器,双光源测试分辨率更高,主光源:波长650nm,30mw,寿命>70000h。辅助光源:波长405nm,20mw。辅助光源可以提高小粒径区间的分辨率。

    多功能的分析软件

      中英文操作系统一键互换,软件界面清晰明了,操作简单。

      报告输出有:自由分布、正态分布、RR分布3种格式供选择。内容包括累计粒度分布数据与曲线、区间粒度分布数据与直方图、典型粒径值如D3、D10、D25、D50、D75、D84、D90、D97、体积平均粒径、面积平均粒径、比表面积等数据。

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