加载中
亚欧
DP-WSP-51
详细说明
方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号：DP-WSP-51
DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×10Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2～ 0.1Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1～ 0.1×10Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸（手持式）
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
|
量程 |
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
|
基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±1.5%FSB
±4LSB
|
4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
