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全自动抗干扰介质损耗测试仪

全自动抗干扰介质损耗测试仪
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详细说明

  全自动抗干扰介质损耗测试仪

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

  一、满足标准:

  GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

  GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

  ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

  五、技术指标:

功能名称:

GCSTD-A

GCSTD-AI

GCSTD-B

信号源范围DDS数字合成信号

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

10KHZ-160MHz

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

16000:1

信号源频率精度6位有效数

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

<5%

<5%

电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

电感测量误差

<5%

<5%

<5%

调谐电容

主电容30-540pF

主电容30-540pF

主电容17-240pF

电容直接测量范围

1pF~2.5uF

1pF~2.5uF

1pF~25nF

调谐电容误差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

谐振点搜索

自动扫描

自动扫描

自动扫描

Q合格预置范围

5-1000声光提示

5-1000声光提示

5-1000声光提示

Q量程切换

自动/手动

自动/手动

自动/手动

LCD显示参数

FLCQ,Lt,Ct波段等

FLCQ,Lt,Ct波段等

FLCQ,Lt,Ct波段等

自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能(独创)

大电容值直接测量显示功能(独创)

测量值可达2.5uF

测量值可达2.5uF

测量值可达25nF

介质损耗系数

精度 万分之五

精度 万分之五

精度 万分之五

  备注说明:

  三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号

  六、电极规格

  固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm  

  液体:测量极片直径Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

  粉体:测量极片直径Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

  试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM

  七、产品配置:

  1、测试主机:一台

  2、测试电感:9个

  3、测试夹具:1套(标配固体测试夹具一套)

  八、其它规格:

  1、环境温度:0℃~+40℃;

  2、相对湿度:<80%;

  3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

  4、消耗功率:约25W;

  5、净重:约7kg;

  6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)

  九:9个电感规格:

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

GCSTD/A/AI

GCSTD-B

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

  全自动抗干扰介质损耗测试仪

  流体排出法

  在电容率近似等于试样的电容率,而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量,这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时,试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。

  试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

  边缘效应

  为了避免边缘效应引起电容率的测量误差,电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度,保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环,通常需对边缘电容进行修正,表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式,只适用于规定的几种特定的试样形状。

  此外,在一个合适的频率和温度下,边缘电容可采用有保护环和无保护环的(比较)测量来获得,用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。

  金属箔电极

  用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅,也可以是这些金属的合金,其厚度为100μm,也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是,铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜,这层氧化膜会影响测量结果,此时可使用金箔。

  阴极蒸发或高真空蒸发金属电极

  假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能,而且材料承受高真空时也不过度逸出气体,则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。

  汞电极和其他液体金属电极

  把试样夹在两块互相配合好的凹模之间,凹模中充有液体金属,该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温,即使在室温下用时,也应采取措施,这是因为它的蒸气是有毒的。

  伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉,镉象汞一样,也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上,且操作人员应知道可能产生的健康危害。

  全自动抗干扰介质损耗测试仪

  二、方法概述

  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

  三、主要用途:

  主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)

  四、应用对象:

  该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

  全自动抗干扰介质损耗测试仪

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