介电常数和介质损耗测试仪 型号：MHY-28967
2.1.1 固体缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%
Q表
型号 | HAD-Y2851 | HAD-Y2852D | HAD-Y2853D |
作频率范围 | 50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 | 1kHz～70MHz 四位数显，数字合成 度：±50ppm | 50kHz～160MHz 四位数显，数字合成 度：±50ppm |
Q值测量范围 | 1～1000 针，±1Q分辨率 | 1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 | 1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 | 40～500 pF ΔC±3pF | 40～500 pF ΔC±3pF | 13～230 pF |
电容测量误差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH | 约20nH | 约8nH |
2.3 介质损耗装置：
以下是引用片段： |
2.3.1 平板电容器片尺寸：
HAD-Y916D:Φ38mm和Φ50mm二种.
HAD-Y915:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：
0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性：
0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：
±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：
25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:
≤2.5×10-4
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