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 梅特勒-托利多微量分析天平XS204DR
  • 梅特勒-托利多微量分析天平XS204DR
  • 梅特勒-托利多微量分析天平XS204DR

    参考价格: ¥6800.00
    适用范围:全领域
    所在地区:
    上架时间:2018年10月19日
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    产品简述
    梅特勒-托利多微量分析天平XS204DR


    技术指标
    量程 变量程
    可读性 0.1/1mg
    最大称量值 81/220g
    最大称量值重复性(s) 0.7mg
    10g重复性(s) 0.1mg
    线性 ±1mg
    1/2最大称量1)四角误差 0.3mg
    灵敏度漂移 0.0004%
    灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃
    灵敏度稳定性3) 0.0002%/a
    典型称量时间4) 4s
    接口更新速率 23/s
    防风罩有效高度(mm) 235
    秤盘尺寸(mm) 78×73
    天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
    1)按照OIML76标准 2)温度范围10 …30℃ 3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术 4)包括样品处理时间设置


    XS超越系列专业型分析天平
    超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。

    * 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果
    * 全自动校准技术(FACT) - 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性
    * 变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求
    * 革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果
    * 易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量
    * 触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置
    * 可移动的显示控制终端,方便天平使用
    * 完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁
    * 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备
    * 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
    * 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
    * e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新