上海君达仪器仪表有限公司

12

所有产品
  • 产品总数:5
  • C测试仪 3504
    C测试仪 3504

    简介:C测试仪3504/电容测试仪HIOKI3504的性能:最多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类(仅限于3504)能根据C和D(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断高速测量:测量频率1kHz时2ms,120Hz时10ms。可选定测量电压触发同步测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等...

    ¥0
    品牌:日置 围观:664次 产地:上海 产品详情
  • C测试仪 3505/3506
    C测试仪 3505/3506

    简介:低容量C测量仪器C测试仪3506与3505是用于测量电解电容器以外的电容器的C(静电容量)测量仪器,可测量频率为1kHz、100kHz(仅限于3505)、1MHz的C(静电容量)与D(损耗系数)。C测试仪3506与3505的测量范围:C为0.000pF~15.0000F,D为0.00001~1.9900。最低量程为220pF(1MHz时)...

    ¥0
    品牌:日置 围观:522次 产地:上海 产品详情
  • LCR测试仪 3511-50
    LCR测试仪 3511-50

    简介:日本日置LCR测试仪hioki3511-50的性能:高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)高精度:0.08%内置比较器精巧,非常专业,5ms快速测量LCR日本日置LCR测试仪hioki3511-50的基本参数测量参数│Z│,,C,L,D,Q,R测量方法测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC)检测:电压,AC测量频率120Hz或...

    ¥0
    品牌:日置 围观:640次 产地:上海 产品详情
  • LCR测试仪 3532-50
    LCR测试仪 3532-50

    简介:测量参数│Z│,│Y│,,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tan)和Q测量方法测量源:恒流10~100mA(42Hz~1MHz),50~20mA(1MHz~5MHz),或恒压10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz)检测:电压,AC测量频率42Hz~5MHz测量量程│Z│,R,X:10.00m~200.00M(视条件而定):-180.0

    ¥0
    品牌:日置 围观:580次 产地:上海 产品详情
  • LCR测试仪 3535
    LCR测试仪 3535

    简介:测量参数|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tan)前置放大器决定的测量量程前置放大器9700-019700-029700-03Z和R100m~1k500~10k5k~100kC1.33pF~15.9F0.133pF~3.18nF0.1pF~318pFL1nH~1.59mH663nH~15.9mH6.63H~159mH-180.00~180.00测量

    ¥0
    品牌:日置 围观:806次 产地:上海 产品详情