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【哈尔滨工业大学】MOS结构高频C-V特性测试系统
【MOS结构高频C-V特性测试系统】功能/作用介绍简介MOS结构是建立半导体表面理论的基础,也是半导体器件与集成电路的基本结构。测量MOS结构高频C-V特性是进行Si/SiO2界面研究,获得关键结构参数:...
2014-10-24
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