摘要：本发明属于一种CCD传感器的应用，具体涉及一种CCD传感器像元灵敏度统一化处理方法及其装置。本发明的优点是，通过本发明所述方法以及所提供的装置，将CCD传感器中的每个像元的输出值进行修订后，能够保证CCD传感器每一个像元的一致，从而解决了CCD传感器像元的差异所造成的图像质量的降低。本发明可以解决由于加工工艺等原因造成的CCD传感器像元灵敏度的差异，通过本发明提供的方法和装置修正CCD传感器的每一个像元使其具有相同的光电转换效率(灵敏度)，从而保证了后续处理对CCD传感器采集到的图像真实的还原。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京航天计量测试技术研究所;
- 发明人王锴磊;
- 地址100076北京市丰台区南大红门路1号
- 申请号CN200810132182.2
- 申请时间2008年07月22日
- 申请公布号CN101635862A
- 申请公布时间2010年01月27日
- 分类号H04N17/00(2006.01)I;H04N5/217(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
