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    镀镍层内应力长度变化测量法

      摘要:本发明公开了一种快速简便的镀镍层内应力长度变化测量法,本发明提供的镀镍层内应力测量方法,能够快速有效地测量出镀镍层内应力,其方法操作简单,设计合理,流程简便,涉及的设备简易,测量精度高。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人苏州精创光学仪器有限公司;
    • 发明人尚修鑫;
    • 地址215300 江苏省苏州市昆山市开发区章基路189号
    • 申请号CN201410609295.2
    • 申请时间2014年11月04日
    • 申请公布号CN104280156A
    • 申请公布时间2015年01月14日
    • 分类号G01L1/00(2006.01)I;