摘要：本发明提出一种干涉仪及光谱仪。该干涉仪包括壳体、激光器、分束器、平面镜和动镜扫描机构；激光器和分束器固定在壳体上；平面镜用于反射光束；动镜扫描机构包括支架、摆动臂、枢轴、第一角镜、第二角镜和驱动装置，支架固定在壳体上，摆动臂通过枢轴连接在支架上，用于折返平面镜反射光束的第一角镜和第二角镜固定在摆动臂上且对称的分布在分束器的两侧，驱动装置连接摆动臂。该光谱仪包括干涉仪、红外光源和抛物面镜。本发明的干涉仪及光谱仪，具有环境适应性强、结构紧凑、体积小、重量轻、稳定性高、低成本优点，能够在工业现场的环境中使用。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京雪迪龙科技股份有限公司;
- 发明人敖小强;石磊;
- 地址102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
- 申请号CN201610945887.0
- 申请时间2016年10月26日
- 申请公布号CN106525241A
- 申请公布时间2017年03月22日
- 分类号G01J3/45(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
