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    顶空分析检测设备的自动进样系统

      摘要:本实用新型提供了一种顶空分析检测设备的自动进样系统,通过使用进气针穿过顶空瓶上密封用的隔垫进入顶空瓶,送入载气,以及使用出气针穿过所述隔垫进入顶空瓶,随载气送待测样品挥发物到顶空分析检测设备的检测口内进行检测分析的方式,实现了顶空分析检测设备中待测样品的自动进样,克服了现有技术中因密闭容器内外的温度差及压力差产生的样品流失弊端,保证了顶空分析检测的准确性。操作过程简单,安装维护便捷。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人武汉矽感科技有限公司;上海矽感信息科技(集团)有限公司;
    • 发明人刘立秋;颜毅坚;曾俊;徐珩;马军;张伟;
    • 地址430000 湖北省武汉市东西湖区台商投资区吴南路4号
    • 申请号CN201420318758.5
    • 申请时间2014年06月16日
    • 申请公布号CN203929793U
    • 申请公布时间2014年11月05日
    • 分类号G01N35/10(2006.01)I;