摘要：一种老化测试系统，属于红外触摸屏技术领域。本实用新型包括测试PC、连接测试PC的多块转接板、连接每块转接板的多块单元板；单元板连接待检测工件，多块转接板依次相连，处于端部的转接板连接于测试PC。本实用新型能够同时进行数百个红外框的老化测试，测试效率高。
- 专利类型实用新型
- 申请人湖州佳格电子科技股份有限公司;
- 发明人李金鹏;张忠伟;杨斌强;周建;王迪;姚荦;
- 地址313000 浙江省湖州市吴兴区红丰路1573号1幢1-2层
- 申请号CN201620576630.8
- 申请时间2016年06月15日
- 申请公布号CN205826811U
- 申请公布时间2016年12月21日
- 分类号G01R31/28(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
