摘要：本实用新型公开了一种绝对法反射率测试装置，包括平台，其特征在于还包括固定在平台上并在平台上排列成等腰梯形的四根立柱，安装在立柱上可调节镜面水平方向的四面反射镜，安装在平台上且对称线与所述等腰梯形对称线一致的支架，通过转轴与支架连接并可绕转轴转动的支杆，通过另一转轴固定在支杆上并可绕支杆翻转的一面反射镜，固定在平台上、位于所述等腰梯形对称线上且对称分布于支架两侧的高度调节装置。本实用新型在测量反射率时不用顾虑到参考样品本身的存放时间、表面光洁度等客观因素，使得测量数据真实可信。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海天美科学仪器有限公司;
- 发明人吴洪池;
- 地址201108上海市闵行区春东路555号
- 申请号CN03210473.1
- 申请时间2003年09月09日
- 申请公布号CN2723987Y
- 申请公布时间2005年09月07日
- 分类号G01N21/55;G01M11/00;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
