导电型号测试仪/PN测试仪/硅料PN鉴别仪 型号：KDK-STY-3
| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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| 产品简介 |
| KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
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