用途;
在光学冷加工中用于检验球面和非球面的质量
测定光学零件或光学系统的像差，如球差、像散等
测定凹球面的曲率半径
检验光学材料中的缺陷，如条纹，不均匀性等
光学系统的检验和装配，用它检验各种非球面及大口径的球面和平面
技术指标：
相对孔径：D/F=1：2
小孔直径：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
狭 缝 宽：0.05，0.15mm
仪器重量：2KG
粗调升降：70mm
微调升降：15mm
移 动 量：纵向横向各15mm
读 书 值：0.01mm
