二极管、三极管和IC的HBM/MM/CDM ESD测试
（电子元器件静电放电敏感度分类试验专用）
一、概述
二极管、三极管和集成电路等电子元器件静电放电敏感度要用国际先进水平的EST883静电放电模拟器，它是是专门为测量元器件的静电放电模拟器，它输出电压范围宽（1V～±20kV)，是世界上宽和电压的静电放电模拟器，民用，军用，精度高(1%),分辨率高(1V),其输出电压和波形符合以下国际和标准：
美国军用标准MIL-STD-883E/F方法3015、MIL-STD-750 方法1020、MIL-PRP-19500、 MIL-PRP-38535
军标GJB548A-97 方法3015 微电子器件试验方法和程序 静电放电敏感度分类标准要求(等同于美国军标MIL-STD-883E）
军标 GJB1649-93电子产器防静电放电控制大纲
军标 GJB128A 半导体分立器件试验方法 静电放电敏感度分类
国际ESD协会标准ANSI/ESD STM 5.1-2001, ANSI/ESD STM 5.2-2001,ANSI/ESD STM 5.3-2001
美国军用标准、MIL-STD-750和IEC747-1
EST883B静电放电模拟器，测试能力：2～2400pins 从二极管、三极管到各种IC，核心技术和器件从美国引进，使您不但能得到技术水平优于或达到国际先进水平的静电放电模拟器，还能得到国际iNARTE(原美国NARTE）静电与电磁兼容咨询专家（Professional EMC/ESD Consultant)提供的免费技术咨询和技术支持,是国内外目前性能价格比和技术支持的静电放电模拟器。
二、技术指标
测试能力：2～2400pins 从各类（发光）二极管、三极管到各种IC，内置试验板(IC test board)
放电网络：
HBM MM CDM 符合标准
储能电容/
放电电阻R（注） 100 pF/1500 Ω (HBM) 200pF/0Ω (MM) ESDA/JEDEC MIL/ESDA/JEDEC/JEITA
充电电阻（注）： 106～107Ω
输出电压： ±1V ～ ±20KV 连续可调 （世界上宽和电压的静电放电模拟器，民用，军用）
模拟器内置4个级别试验电压
输出电压示值的容许偏差： <±1% （0～ ±20KV）
输出电压稳定性: 0.5% (24小时）
电压显示分辨率:1V
输出电压极性：正和负极性（可带电直接切换）
放电电流波形：
Tri(上升时间）：小于10ns
Tdi(衰减时间）：150±20ns
Ip(峰值电流）：见表1中所选电压等级对应的Ip±10%内
Ir(振荡电流):小于Ip的15%，脉冲100ns后观察不到
HBM MM CDM
(MIL-STD-883E和GJB548A-97 方法3015)
放电操作方式：手动单次放电,自动连续：1～10秒一次连续可调
工作环境： 温度5-40℃；相对湿度20-80%，无凝露；气压68-106kPa
供电： AC85V～260V, 50/60Hz
