荧光X射线涂层测厚仪/X射线涂层测厚仪 型号：DPEX-2000
荧光X射线涂层测厚仪非接触、非损坏地行测量，适用于各种镀层及多层镀层、合金镀层、贵金属的薄镀层等的厚度测量。
测量面积小为0.05mm,可测量形状复杂的细致的物品。
内置5种准直孔，自动设定x线的输出。
可提供光谱分析。
可检测范围：原子序号22-24:0.2- 约20
原子序号25-40:0.1- 约30
原子序号41-51:0.2- 约70
原子序号52-82:0.05-约10
应用：单层镀层测定
薄单层镀层测定
2层镀层测定
同时测定合金金属镀层成分比
测定无电解镍
同时检测铸锌基材料上的铜、镍2层镀层.
