四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
| ◆特性及规格： | ||||||||||
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型号
（Model） |
曲率半径
（Radius） |
压力
（loads） |
探针间距
（spacing） |
探针排列
（Arrangement） |
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GSZ-HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直线
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