平均粒度测定仪/平均粒度检测仪

XRS-WLP-205平均粒度测定仪是利用空气透过原理而制成的测量各种材料粉末体表面积平均径的仪器,又称费氏仪.该仪器是HAD-WLP-202型仪器的改进型,其特点是测定速度快、操作简单、重复性好、精度高，被广泛应用于磁性材料、粉末冶金、硬质合金、钨钼材料、陶瓷、建材等工业上。特点如下:

★性能稳定,操作简单,重复性好,选用耐磨金属研制的费氏泵,工作无噪音,仪器压力进一步稳定,延长了仪器使用寿命。
★仪器的孔隙度由原来0.4-0.80扩展到0.25-0.40、0.40-0.80,0.8-0.95。满足了各种材料粒度测量的需要，与国际上公认的检测粉末粒度的费氏法接上了轨，并列入了标准和行业标准。

主要指标：

（1）测量范围 0.2-50μm（微米）

（2）空隙度范围：0.25-0.40, 0.40-0.80, 0.80-0.95

（3）重复性 ±3%

（4）电源 ~220V±22V

（5）功率 30W

（6）环境温度 25±10°C

（7）环境湿度 相对湿度 < 80%

（8）重量 18kg

（9）外形尺寸 735×414×244mm