非接触电阻率测试仪 非接触厚度测试仪 非接触方块电阻测试仪 型号：XRS-JXNR-1/JXNRT-1
一、产品特点
1.非接触测量硅半导体材料的电阻率
2.适合测试硅片，不损伤样品表面。
3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印
4.软件界面直观友好
5.样片校准快速、方便
二、推荐工作条件
1．温度：23±2℃
2．湿度：60%~70%
3．无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近
三、参数指标
1．整机尺寸：340mm×260mm×150mm
2．电阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝
3．误差范围：±5%
4．硅片厚度：适合150-600um厚度
