温度传感器实验仪 /温度传感器特性综合实验仪 XRS-HLD-WD-II
基本介绍：
该仪器集成加热，传感器，测量于一体。低温加热安全可靠。其内带半导体热敏电阻和热电偶传感器。配单臂电桥和电位差计做半导体热敏电阻特性测量，热电偶测温实验，或数字表测量。单片机PID控温，温度范围：室温～200℃，精度1℃。可直接测量不同温度传感器温度特性。
仪器特点：
◎采用隔低压电压加热，安全可靠，发热部分与外表良好的隔热不会烫伤可替代恒温水浴锅。
◎可采用风扇快速降温，缩短实验时间，同时可学习用热敏电阻测温实验。
◎加热装置附有：铜电阻Cu50、热敏电阻。热电偶。PT100
