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高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

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TEE-800PF
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详细说明

  高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  快速温变试验箱设备参数

产品型号

TEE-800PF

升降温速率

20℃/min

功能

线性/非线性快速温变试验,恒温恒湿试验,高低温循环试验

温度范围

-70℃~150℃

湿度范围

20%~98%

节能型控制

冷端PID智能控制程序,节能40%

主要配件

法国泰康/德国比泽尔压缩机,韩国三元控制器,施耐德接触器

高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  优势:

  1.仿真产业界零件、首要配件、半成品,如:电子零件、汽车零件、笔记本计算机等…在气候环境温湿度组合条件下(高低温操作,贮存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露实验等),检测商品自身的适应能力与特性是不是改动及牢靠度及温湿度环境测验。

  2.契合世界性规范之需求(IEC、JIS、GB、MIL)以到达行业标准间量测程序*性(含测验过程、条件、办法)防止认知不一样,并缩小量测不确定的要素规模发作。

  3.完满的外型规划:圆弧外型及雾面线条处置,高质感外观,并选用平面无反作用把手,操作简单,安全牢靠。

  4.平衡调温调湿操控体系(BTHC),以P.I.D.方法操控SSR,使体系之加热加湿量等于热湿损耗量,故能长时刻安稳运用.温湿度操控准确,升降温速度疾速、平稳、均匀,为运用者节省宝贵时刻。

  5.视界广大的观测窗:长方形观测窗,选用萤光灯坚持箱内亮堂,且运用发热体内嵌式玻璃,无须雨刷除雾,随时坚持明晰的观测验验箱内的情况。

  6.加湿体系管路与操控电路别离:加湿体系管路与电源、操控器、电路板别离,可防止因管路漏水而影响电路,进步安全性。

  7.简洁主动供水设备:供水箱选用前置式,于实验箱面板的下部,便于弥补供水,(容量约为40L)并附用水收回循环运用设备,节省用水。

  8.由操控面板、配电盘、保温隔层、送风机、加热器、加温器、冷冻机组合而成,首要规范可区分为7种规范尺度及10种不一样条件之规范。

  9.体系容量:可输入10组程序×16段,段数可任意切割,程序可自在彼此联合。

  10.循环设定:可履行9回次数循环,且可再切割出4组独立之部份循环。

  11.操控方法与特征:采智能型PID操控SSR正逆双向同步输出,使体系之加热加湿量=热湿损耗量故能长时刻安稳运用,并含斜率操控逻辑。

高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  12.材料设定:触控式对话框设定形式,操作简便清晰,内建目录数据办理体系。

  13.曲线制作:当温、湿度、时刻材料设定完结,可当即转成设定曲线,工作中亦可获取实践工作曲线之制作。

  14.时刻信号:2组时序操控输出接口,调配10种之时刻操控形式,便利履行外部驱动组件启/停之时序规画。

  15.终了温度时:可选择履行回来常温之状况,以利测验物取出。

  16.安全检知:10项全功用之体系侦测,保证机台工作安全.并可主动显现异常缘由。

  17.外部维护:独立于主操控器之电子式超温维护设备,可设定受测目标之温度上限维护。

  18.通讯接口:附RS-232及RS-485之规范通讯接口设备,可与个人计算机(PC)一起联机多机操控及办理(需格外约好设备方有装备)。

  19.USB无纸记载仪设备:可选购128或256MB回忆容量之USB无纸记载仪设备,以替代传统贵重之走纸记载器;具自我确诊之功用,记载距离可自在选择(需格外约好设备方有装备)。20.可扩大(需格外约好设备方有装备)。USB无纸记载仪材料读取设备;玻璃内门(附操作孔);温湿度主动记载器 ;

高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  满足标准:1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件;2.GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件;3.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件;4.GB2423.1-89低温试验Aa,Ab ;5.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验Ca;6.MIL-STD810D方法502.2;7.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;8.GJB150.9-8 湿热试验;9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验。10.IEC68-2-1 试验A11.IEC68-2-2 试验B 高低温交变12.IEC68-2-14 试验N 

高低温快速温变试验箱20℃/min生产产家

  高低温快速温变试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效,温度变化率一般小于20℃/分钟,实现以*快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。

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