仪器简介：
SR2000N 是一款量测面电阻、电阻率的全自动款测试系统。本系统可D立运行，并可通过 PC 和Z用软件进行完善的远程控制，提供多种数据分析功能。
广泛应用于半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏......
技术参数：
- Z大可测样品尺寸：Φ200mm 或 140×140mm
面电阻测量：1mΩ/sq ～ 2MΩ/sq
- 测量模式 : 接触式 4-探针
电阻率测量：10.0 μΩ·cm ～ 200.0 KΩ·cm
- 测量模式 : 接触式 4-探针 (需输入厚度)
软件系统：
- Recipe 测试：根据使用者设定的 Recipe 直接测试
- 标准测试：ASTM、SEMI
- Pattern 测试：49，81，121，225 点等
- 数据分析：2D、3D、数据图谱、统计等
- 数据 & mapping 可打印
主要特点：
- X,R,Z轴全自动控制系统
- 自动& 手动范围可选
- 通过PC进行控制
- 样品台尺寸大小可订制
