产品简介：
SR5000N是一款用于测量硅片和太阳能电池片的面电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的，具有多种数据分析、绘图等功能.
技术参数：
- Z大可测样品尺寸：Φ300mm 或 210×210mm
面电阻测量：1mΩ/sq ～ 2MΩ/sq
- 测量模式 : 接触式 4-探针
电阻率测量：10.0 μΩ·cm ～ 200.0 KΩ·cm
- 测量模式 : 接触式 4-探针 (需输入厚度)
软件系统：
- Recipe 测试：根据使用者设定的 Recipe 直接测试
- 标准测试：ASTM、SEMI
- Pattern 测试：49，81，121，225 点等
- 数据分析：2D、3D、数据图谱、统计等
- 数据 & mapping 可打印
主要特点：
- X,R,Z轴全自动控制系统
- 自动& 手动范围可选
- 通过PC进行控制
- 更大尺寸（Φ450mm 或 315 x 315mm）可选
