O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身，因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备，O-INSPECT一机即可胜任。
O-INSPECT 322 O-INSPECT 543 O-INSPECT 863
测量范围[dm] 3/2/2 测量范围[dm] 5/4/3 测量范围[dm] 8/6/3
特色：.
Discovery远心变焦镜头
自适应照明系统
VAST XXT扫描探头
库位架
校准球
选项
白光距离传感器
转台
含玻璃托盘和网格托盘的上下料系统
校准托盘
软件
CALYPSO
大视野，高清图像——蔡司Discovery远心变焦镜头
蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较，提供四倍更大视场，即便于镜头周边区域亦可确保佳图像质量。点：减少测量时间并具有稳定的度。
更多测量点，更多信息——蔡司VAST XXT连续扫描测头
O-INSPECT配备灵活、快速及高度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点，取得有关形状和位置的信息，是此类测量机中的佼佼者。别的多探头测量机仅允许单点测量，而且探针测力相当大;蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量，所以针对薄壁的工件也能实现的3D测量
