多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪型号:XN-2258C 由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成

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品　　牌：北京鑫诺宸仪器仪表有限公司

产品型号：XN-2258C

制造厂商：北京鑫诺宸仪器仪表有限公司

适用范围：高教

所在地区：

　　多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪型号:XN-2258C 由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成

　　概述

　　XN-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

　　仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。

　　主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，分类10类。

　　探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

　　测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配XN-T-A或XN-T-B或XN-T-C或XN-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选XN-T-K型测试台，也可选配XN-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配XN-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》

　　仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

　　仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

　　三、基本技术参数

　　1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）

　　电阻：10.0×10-6 ～200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ～0.1×103? Ω

　　（1.0×10-6 ～20.00×103?Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ～0.01×103 Ω）

　　电阻率：10.0×10-6 ～200.0×103Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ～0.1×103? Ω-cm

　　（1.0×10-6 ～20.00×103Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ～0.01×103 Ω-cm）

　　方块电阻：50.0×10-6 ～900.0×103 Ω/□分辨率5.0×10-6 ～0.5×103? Ω/□

　　（5.0×10-6 ～100.0×103Ω/□分辨率0.5×10-6 ～0.1×103? Ω/□）

　　2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

　　直径：XN-T-A圆测试台直接测试方式Φ15～130mm，手持方式不限

　　XN-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

　　长(高)度：测试台直接测试方式H≤100mm,??? 手持方式不限.

　　测量方位:? 轴向、径向均可

　　量程划分及误差等级

　　工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

　　5．外形尺寸：245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（高）

　　净重：≤1.5～2.0kg