双电测数字式四探针测试仪/双电四探针检测仪二探针测仪XNC-RT7
XNC-RT7型二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。
仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
双电测数字式四探针测试仪/双电四探针检测仪二探针测仪XNC-RT7
本仪器适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
技 术 指 标：
测量范围电阻率：10-5～105 Ω.cm；
恒流源电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调
数字电压表量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
输入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；
二探针探头基本指标间距：3mm（可选其它间距）；
针间绝缘电阻：≥1000MΩ；
机械游移率：≤0.3％；
探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；
探针压力：5～16 牛顿(总力)；
二探针探头应用参数(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87进行)0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
测试架配置T-2A测试架，两端电极Ф8mm～20mm（可选其他尺寸订做）
计算机通讯接口并口
标准使用环境温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
无强光直射；
