薄件穿透涂层测厚仪 超声波测厚仪 金属测厚仪 玻璃测厚仪 DP17871
薄件穿透涂层测厚仪概述
采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。
此仪器可对板材和加工零件做测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、航空、航天等各个领域。
薄件穿透涂层测厚仪适用材料
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
薄件穿透涂层测厚仪基本原理
超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
薄件穿透涂层测厚仪规格参数
探头类型 单晶
测量范围普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)
穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，大穿透涂层厚度0.5mm
测量频率15M、20M 单晶
显示分辨率0.01mm、0.001mm
声速范围1000-9999m/s
显示128*64 LCD显示，LED背光
示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)，
自动关机5分钟无操作后自动关机
工作温度-10℃～＋50℃，有要求可达-20℃
工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示
操作时间碱性电池长可使用200小时（不使用背光）
数据存储500个数值存储功能
默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。
外形尺寸153mm*67mm*26 mm
整机重量220g
标准配置主机1台、15M单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套
可选配置数据传输线
