方阻的多用途综合测量仪手持式四探针测试仪/四探针检测仪型号XN-3
概述
XN-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
方阻的多用途综合测量仪手持式四探针测试仪/四探针检测仪型号XN-3
参数
1. 测量范围、分辨率
电阻：0.010 ～50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ～10 Ω
电阻率：0.010～20.00kΩ-cXN，分辨率0.001 ～10 Ω-cXN
方块电阻：0.050～100.00kΩ/□分辨率0.001 ～10 Ω/□
方阻的多用途综合测量仪手持式四探针测试仪/四探针检测仪型号XN-3
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直径：XNT-A圆测试台直接测试方式Φ15～130XNXN。
XNT-C方测试台直接测试方式180XNXN×180XNXN。
长(高)度：测试台直接测试方式H≤100XNXN。.
测量方位: 轴向、径向均可.
量程划分及误差等级
量程（Ω-cm/□）2.00020.00200.02.000k20.00k
电阻测试范围0.010～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～50.00k
电阻率/方阻0.010/0.050～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～20.00k/100.0k
基本误差±1%FSB±2LSB±2%FSB±2LSB
4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净重：≤0.3kg
