北京中慧天诚科技有限公司

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 两探针电阻率测试仪ρ:0.001~1000Ω?cm 型号:GDS/KDY-2(测锗)
  • 两探针电阻率测试仪ρ:0.001~1000Ω?cm 型号:GDS/KDY-2(测锗)
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    适用范围:全领域
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    上架时间:2018年10月17日
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    两探针电阻率测试仪ρ:0.001~1000Ω?cm 型号:GDS/KDY-2(测锗) 货号:ZH416
    产品简介
          GDW3-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的,而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒,例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量,由于多晶晶粒间界处,杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化,这种影响对四探针法更为严重,故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
    本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外,也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率,在我国已有四十多年的实践经验,对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法,本仪器采用李贺成教授提出的计算公式编写程序,可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据,或采用KDY测量系统专用软件测量数据,并根据北京有色金属研究总院余怀之教授的提议,扩大了微处理机的数据处理范围。
          本仪器主要由电气测量部份(简称:主机)、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护被测材料。仪器配置了本公司的专利产品:“小游移探针头”,间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02~0.05%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统专用软件,置入必须的数据后,处理器会配合探头在锗锭上移动测量,自动计算、打印出各点的电阻率、电阻率的最大值、电阻率最小值,给测量带来很大方便。
    主机技术参数
    (1)测量范围:
     可测电阻率:锗晶体0.1-100Ω·cm
     可测锗锭尺寸:最大长度700mm;最大高度50mm;最大宽度60mm。
    (2)恒流源:
     输出电流:DC 0.004-100mA  五档连续可调
     量程:0.004-0.01mA   
              0.04-0.10mA
              0.4-1.0mA 
              4.0-10mA
              40-100mA
    恒流精度:各档均优于±0.05%
    (3)直流数字电压表:
     测量范围:0-199.99mV
     灵敏度:10μA
     基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
     输入阻抗:≥1000MΩ
    (4)电阻测量误差:≤0.3%
    (5)两探针头:KDT-5
     探针间距:10.00±0.02mm  
     游移率:0.02-0.05%          
     探针压力:4±1N/单针
    (6)供电电源:
     AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率:12W
    (7)使用环境:
     温度:23±2℃   相对温度:≤65%
     无较强的电场干扰,无强光直接照射。
    (8)重量、体积:
     主机重量:7.5Kg
     体积:390×340×190(单位:mm  长度×宽度×高度)
    两探针电阻率测试仪ρ:0.001~1000Ω?cm 型号:GDS/KDY-2(测锗)