北京冠测精电仪器设备有限公司

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 薄膜介质损耗测试仪
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    参考价格: ¥3300.00
    品  牌:北京冠测
    产品型号:GCSTD-A/B
    适用范围:高教 职教
    所在地区:北京 昌平区
    应用院校:华中科技大学,哈尔滨科技大学
    上架时间:2018年11月12日
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  • 详细说明

    薄膜介质损耗测试仪

    GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪

    满足标准:

    GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法

    GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

    GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

    GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

    GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法

    薄膜介质损耗测试仪

    薄膜介质损耗测试仪

    如果需要测量陶瓷、薄膜材料的介电常数,需要使用专业的介电温谱仪测量。介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计,采用平行板电极原理,测试电极由上下电极+保护电极组成。
    上下电极具有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。
    在测量前,需制备好样品。为了确保测量结果的准确性,样品制备需要遵循以下几点:
    样品大小:直径5-40mm(电极直径为26.8mm),厚度小于8mm;
    样品形状制备为圆盘样品,两面镀上电极;
    样品表面须平整光滑,才能保证与平行电极接触良好。否则,测出的电容值因为存在接触间隙而导致测试的值有误差,影响测试结果。
    在没有采集硬件的情况下进行分析
    分析宽带设计
    广泛的信号分析适用于多种应用,包括:宽带雷达和脉冲射频信号、无线局域网、蓝牙、商用无线、EMC/EMI 预一致性测试和调试等
    使用介电温谱测试仪(介电温谱测量系统)测陶瓷高温介电常数方法:
    1.首先,需要准备一套介电温谱测试仪,也就是专业的三琦高温介电温谱测量系统。
    2.制备样品,需制备为圆盘样品,表面打磨光滑平整,涂上电极。
    圆柱高温介电夹具是参照ASTM 150标准要求 ,并针对高温环境进行设计,应用于绝缘材料产品的开发与检测,评估产品介电性能与温度的关系。由内电极、外电极、电极夹具、接线盒组成。
    主要特点
    圆柱高温介电夹具与高温测试平台配合使用,组成高温介电测试平台;
    测温热电偶探头与样品外电极为同一热沉,确保测量温度与样品温度的一致性;
    采用紧凑型设计,体积小、结构简洁,操作简单、方便;
    电极夹具与外电极采用过零配合与弹性设计,保证了外电极与样品的充分接触;

    薄膜介质损耗测试仪

    薄膜介质损耗测试仪

    信号源: DDS数字合成信号,频率范围 100KHZ-160MHZ;
    信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数;
    Q值测量范围:1~1000;
    Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
    电感测量范围:1nH~140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;
    电容直接测量范围:1pF~25nF;
    主电容调节范围: 17~240pF;
    准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;
    信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz;
    合格指示预置功能范围:5~1000;
    环境温度:0℃~+40℃;
    消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz;
    提供厂家授权书原件及产品彩页。

    一、产品概述

    本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点。

    本测试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。

    二、性能特点

    1、仪器测量准确度高,可满足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和专用测试线即可实现油介损测量。

    2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

    3、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

    4、内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

    5、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

    三、技术指标

    技术指标

    1、试验环境温度:10℃~30℃(LCD液晶屏应避免长时间日照)

    2、相对湿度:20%~80%

    3、供电电源:电压:220V±10%

    4、外形尺寸:长*宽*高=470mm*320mm*360mm

    5、重量:16kg

    6、输出功率:1.5KVA

    7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)

    8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

    9、测量范围:内接试验电压:

    tgδ:99.9%

    Cx :50 pF<Cx(2.5KV)<0.3UF

    2.5KV Cx<0.3uF

    0.5KV Cx<1.5uF

    外接试验电压:

    由外接试验变压器输出功率而定

    10、基本测量误差:介质损耗(tgδ):1%±0.09%

    电容容量(Cx):1.5%±1pF

    11、分辨率: tgδ:0.01%

    Cx :0.1pF

    12、试样要求:直径为50MM、100MM、38MM

    薄膜介质损耗测试仪

    薄膜介质损耗测试仪

    薄膜介质损耗测试仪

    由于这个原因,受保护电极(三终端)方法将用于作为仲裁方法,除非另有协定。图8显示了一种完整受保护和屏蔽电极系统的图解。尽管保护通常被接地,所示布置允许接地或测量电极,或者没有电极能容纳被使用的特殊三终端测量系统。
    如果保护接地,或者连接到测量电路中的一个保护终端上,测量的电容为两个测量电极之间的静电容,无保护电极和导线的接地电容与要求的静电容进行并联连接。为消除该误差源,采用一个屏障连接到保护上来包围无保护电极,如图8所示。
    除了那些总是不方便或不实际的,且限制频率小于几兆赫兹的保护方法之外,已经设计出使用特殊电池和程序的技术,采用两终端测量,精度相当于受保护测量所获得的精度。此处所述方法包括屏蔽测微计电极(7.3.2)和液体置换方法(7.3.3)。
    介电常数是PCB阻抗设计中不可或缺的因子,指相对于真空增强材料储能容量的能力,属于材料本身所固有的电气特性。
    随着线路板向高频高速发展,对控制传输线阻抗的精度要求越来越高,而板材商提供介电常数值一般采用谐振腔法测得,且介电常数受到频率影响,在不同频率下存在差异,设计中如何取值才能提高阻抗的精度。提供一种准确并与使用设计模型匹配的介电常数值至关重要,同时如何测量及选取介电常数需引起板材商和PCB生产厂商重视。
    文章通过实验考察谐振腔法、传输线法(S3)、反推法对测量Megtron6板材Dk值的差异,分析其对阻抗精度的影响,对比三种方法的优势和局限性,通过统计与推算,给出不同规格材料的Dk修正值,为后续相关研究提供理论依据。
    1什么是介电常数介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与介质中电场的比值即为相对介电常数(permittivity)介电常数指相对介电常数与真空中绝对介电常数乘积。