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高低频介电常数测试仪

高低频介电常数测试仪
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北京冠测
GCSTD-D
高教 职教
北京 昌平区
理工大学
详细说明

高低频介电常数测试仪

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

性能特点

■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进
■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 最高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

简要介绍

广泛的测量对象

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

高低频介电常数测试仪

技术参数

测试参数

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率

20 Hz~2MHz,10mHz步进

测试信号电

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度

0.1%

L

0.0001 uH ~ 9.9999kH

C

0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

显示范围

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S

D

0.0001 ~ 9.9999

Q

0.0001 ~ 99999

θ

-179.99°~ 179.99°

测量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式

串联方式, 并联方式

量程方式

自动, 保持

显示方式

直读, Δ, Δ%

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏

电压模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源

电流模式(内阻为50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能

10档分选及计数功能

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(选件)

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