2008年7月7日至9日，美国CID公司CEO——Leonard Felix先生访问了泽泉科技有限公司上海总部，与泽泉科技就CID产品在中国的市场推广和技术支持做了热烈探讨。随后Felix先生对泽泉科技员工进行了培训，内容包括CID产品的原理和应用，数字植物冠层图像分析仪CI-110、便携式激光叶面积仪CI-203、手持式光合作用测量系统CI-340和植物根系生长监测系统CI-600的操作。泽泉科技员工对上述产品进行了认真学习，并分组做了实验，就仪器的特性与使用等和Felix先生做了热烈讨论。
2008年7月7日至9日，美国CID公司CEO——Leonard Felix先生访问了泽泉科技有限公司上海总部，与泽泉科技就CID产品在中国的市场推广和技术支持做了热烈探讨。随后Felix先生对泽泉科技员工进行了培训，内容包括CID产品的原理和应用，数字植物冠层图像分析仪CI-110、便携式激光叶面积仪CI-203、手持式光合作用测量系统CI-340和植物根系生长监测系统CI-600的操作。泽泉科技员工对上述产品进行了认真学习，并分组做了实验，就仪器的特性与使用等和Felix先生做了热烈讨论。
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