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JD-9200型激光粒度分析仪（符合GB/T19077-2008标准）
性能特点：
JD-9200型激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射(散射)谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高、操作方便、测试速度快、测量结果准确、可靠、重复性好。是石油化工、陶瓷、燃料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿、雾滴、乳浊液等粒度分析仪的理想仪器。
主要技术指标：
准确度：体积(重量)不确定范围达到GBW(E120009C)标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求
测量速度：单次光学采样20微秒并行，处理时间少于1分钟
测量方式：静态、液态、液态循环
结果输出：打印，各级颗粒体积(重量)与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度
型号：JD-9200
数级：32级
测量范围：0.1-330um
精密度：<3%(标准物质D50)
尺寸：600X390X300mm
产品简介
光在传播中，波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制，以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射，衍射和散射的光能的空间(角度)分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间(角度)分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射，各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小，各特定角光能量在总光能量中的比例，应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型，进而研制仪器，测量光能，由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。
产品特性
采用湿法分散技术，机械搅拌使样品均匀散开，超声高频震荡使团聚的颗粒充分分散，电磁循环泵使大小颗粒在整个循环系统中均匀分布，从而在根本上保证了宽分布样品测试的准确重复。
测试操作简便快捷：放入分散介质和被测样品，启动超生发生器使样品充分分散，然后启动循环泵，实际的测试过程只有几秒钟。测试结果以粒度分布数据表、分布曲线、比表面积、D10、D50、D90等方式显示、打印和记录.
输出数据丰富直观：本仪器的软件可以在各种计算机视窗平台上运行，具有操作简单直观的特点，不仅对样品进行动态检测，而且具有强大的数据处理与输出功能,用户可以选择和设计最理想的表格和图形输出。
问：我在一家公司做质检，操作一台激光粒度分析仪，是测硅微粉粒度的，一般得到的图形在粗端处都是很平滑的，最近做一批料子，曲线尾巴处会拖一个凸起的泡，排除是气泡的可能性，那么是料子团聚吗?但将硅微粉超声后仍然存在凸起，公司前辈说图形尾巴多一个凸起是不对的，到最后应该得到平滑的线，可是有些料子在曲线前端也会有凸起和凹处，那这些图形如何解释呢?粒度分布图有个准确的范围吗?
答：首先在粗粒部分出个小峰不能说一定是不对的，其实粉体生产是很难控制大粒部分上限的。硅微粉原来的规格标准(以目为单位)其实是在粉体比较粗的情况下制定的。粗粉可在生产工艺中直接用筛网控制粗颗粒，在400目以下粉体一般无法再使用此工艺来控制。此时沿用目的标准不科学。你可以查查硅微粉的新标准，使用新标准技术体系的话，根本不再关心上限部分一点小峰的问题。(标准号SJ/T10675-2002)
再回到那个粗粒小峰是否真实的问题上来，最直接的方法就是用显微镜看。我觉得很奇怪的是硅微粉生产企业其实很关心粉体粒径上限，但非常多的企业却连显微镜都没有。激光粒度仪的测试原理决定了它不可能非常真实的反映极限粒径。其它的沉降法仪器等类型的也做不到。
